Une équipe de recherche germano-israélienne dirigée par le Dr Andreas Furchner a démontré comment l'ellipsométrie d'imagerie permet la caractérisation non destructive et le contrôle qualité de films minces MXene microstructurés lors de la fabrication de dispositifs. L'étude, publiée dans une revue à comité de lecture, montre que cette technique optique peut surveiller l'épaisseur et les propriétés optiques du film sans endommager l'échantillon.
Les MXenes sont une classe de carbures, nitrures ou carbonitrures de métaux de transition bidimensionnels avec une conductivité électrique élevée et une chimie de surface ajustable. Ils sont prometteurs pour des applications dans le stockage d'énergie, le blindage contre les interférences électromagnétiques et les capteurs. Cependant, la qualité de leurs films minces est critique pour la performance des dispositifs.
Les chercheurs ont utilisé l'ellipsométrie d'imagerie pour cartographier l'uniformité spatiale des films MXene sur de grandes surfaces. La méthode a fourni un retour en temps réel pendant la fabrication, permettant des ajustements immédiats. L'équipe a vérifié les résultats avec des techniques complémentaires comme la microscopie à force atomique et la microscopie électronique à balayage.
Cette approche pourrait accélérer le développement de dispositifs à base de MXene en réduisant les déchets et en améliorant la reproductibilité. Les travaux ont été soutenus par la Fondation allemande pour la recherche et la Fondation israélienne pour la science.
